半导体服务

400-182-9001

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器件分析与评价
伴随着电子信息产业规模的扩大，电子元器件持续向微型化、片式化、高性能化、集成化、智能化和环保节能方向发展。对如何提高元器件质量？失效时如何界定原因、挖掘失效机理？怎样改进生产方案？

无损分析

外观形貌、X-ray透射、X-ray（3D）、声学扫描（C-SAM）、膜厚测试
破坏性分析

DPA分析、金相切片、断面SEM/EDS分析、开封技术（机械开封、激光开封、化学开封）
电性能测试

连接性测试、电参数测试、功能测试
失效复现/验证

·复现验证、可靠性验证 (恒温恒湿、冷热冲击等)、器件对比
失效分析

PCB/PCBA失效分析、电子元器件失效分析、液晶模组失效分析、功能失效、电参数漂移、CAF失效、非稳定失效、形貌观察与测量、显微结构分析、异物分析
可靠性实验

温/湿度实验、腐蚀性气氛实验、老化试验、机械耐久实验、其他综合性可靠性实验

英格尔服务项目
专业为客户提供一站式服务

稳态温湿度偏置寿命测试(THB)
只测：温度范围：30℃～85 ℃，湿度范围： 60%RH～95%RH；

不测：5 测试失效准则

稳态温湿度偏置寿命测试 JESD22-A101D:2015
高温贮存寿命测试 (HTS)
只测：温度范围：55℃～200 ℃；

不测：4.2 测量、4.3 测试失效准则

高温贮存寿命测试 JESD22-A103E:2015
温度循环(TCT)
只测：温度范围：-65℃～150 ℃；

不测：5.9测量、6 测试失效准则

温度循环 JESD22-A104F:2020
功率温度循环试验(PTC)
只测：温度：(- 40~125°C)；

不测：4.4测量、5测试失效准则
高加速温度湿度应力测试
不测：5测试失效准

高加速温度湿度应力测试 JESD22-A110E:2015
温度、偏压和工作寿命试验
只测：温度：(- 40~200)℃；

不测：6 测量、7 测试失效准则

温度、偏压和工作寿命试验 JESD22-A108F:2017
2022-03-23静电放电测试（带电器件模型）
只测：电压：(50~2000)V；

不测：2.2 测量 2.9 测试失效准则

静电放电测试（带电器件模型）AEC-Q100-011-REVD:2019
闩锁效应
只测：电流：≤ 2A，电压：≤ 100V；

不测：5测试失效准则

闩锁效应 AEC-Q100-004-REV-D:2012
早期寿命失效率
只测：温度：(70~150)℃；

不测：试验前后的电性测试

基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求AECQ100-REV-H:2014表 2，测试B2组，早期寿命失效率
湿度敏感等级
只测:烘焙：温度：(85~200) ℃，湿浸：温度：（30~85） ℃，湿度： 60~85）%RH，回流焊：分级温：(220~260) ℃；

不测：3.6 电性能试验、5.2 初始电性能试验、 5.8最终电性能试验

非气密性固态表面贴装器件的湿气/回流焊敏感性分级 IPC/JEDEC J-STD-020E:2014

一站式服务——针对您的实际情况解决问题
为每一位客户定制专有服务方案

前期咨询
客服针对您的情况安排相关专业人员洽谈项目细节，提供初步服务方案
专员服务
安排专业人员安排完整的分析测试解决方案
专业分析
专业实验人员进行实验分析，得出数据，解决生产问题
售后客服
售后客服接洽，解答服务后产生的其他问题

专业一站式服务分析检测服务
专业为客户提供一站式服务

专业态度
具备CMA
CNAS等多项国内外资质
实验严谨
高新实验设备
专业团队多年经验
专精服务
一站式服务
整体解决方案
经验充足
服务多家企业
检验经验丰富

服务流程
为每一位客户定制专有服务方案

关于我们
打造一流客户服务体验

ICAS英格尔自2000年创立以来，切实把握国家战略需要、着眼行业痛点，构建“国家+企业双轮驱动”的业务战略格局，在质量保证、清洁能源、创新研发、市场服务、企业服务和战略合作等领域多元化发展，突破行业业务模式，打造开放式创新赋能平台。

未来，ICAS英格尔将继续坚持需求驱动发展，创新铸就未来，打造一流的客户服务体验，让每一位客户实现“加速业务成长，提升核心竞争力，共创可持续发展”。

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